瓦楞紙板厚度是指瓦楞紙板試樣在規(guī)定的壓力下，在厚度測(cè)定儀兩平行面之間測(cè)量的距離，其測(cè)定按照GB/T 6547——1998《瓦楞紙板厚度的測(cè)定法》進(jìn)行。
瓦楞紙板厚度直接影響瓦楞紙板的邊壓強(qiáng)度、戳穿強(qiáng)度和抗壓強(qiáng)度及抗彎挺度等物理性能。瓦楞紙板厚度取決于面紙、里紙與芯紙的厚度、楞高，也跟瓦楞輥磨損量、加工和印刷工藝等諸多因素有關(guān)。由于瓦楞輥磨損、塌楞、歪楞、楞高不齊以及裱糊、特別是印刷過(guò)程加壓等造成的楞高損失，會(huì)影響到紙箱的承壓能力，進(jìn)而在產(chǎn)品堆碼過(guò)程中容易出現(xiàn)倒垛、塌垛、散包等質(zhì)量問(wèn)題。
瓦楞紙板厚度測(cè)量受到測(cè)量頭面積、壓力、下壓速度以及讀表時(shí)間等因素影響，厚度隨著測(cè)量頭面積的增大而變大；隨著壓力的增大而變小，并趨于一定值；測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng)，厚度越小。瓦楞紙板厚度測(cè)定儀應(yīng)滿足如下三個(gè)參數(shù)：
(1) 接觸壓力：（20±0.5）kPa；
(2) 接觸面積：（10±0.2）cm2；
(3) 測(cè)量頭下降速度：（2～3）mm/min。
瓦楞紙板的國(guó)標(biāo)GB/T 6544-2008《瓦楞紙板》規(guī)定瓦楞紙板的厚度：?jiǎn)瓮呃慵埌搴穸葢?yīng)高于表1規(guī)定相應(yīng)楞高的下限值；多層瓦楞紙板厚度應(yīng)高于表1所規(guī)定相應(yīng)楞高的下限值之和。
表1
瓦楞紙板的厚度按GB/T 6547-1998《瓦楞紙板厚度的測(cè)定法》進(jìn)行測(cè)定。
1、 測(cè)試儀器及方法標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6547、ISO3034
2、 測(cè)試目的
瓦楞紙板在制成紙箱的加工過(guò)程中，瓦楞高度會(huì)有所損失的，例如經(jīng)過(guò)模切、壓痕分切、開槽、印刷等生產(chǎn)工藝，都會(huì)大大地降低其厚度，破壞瓦楞的結(jié)構(gòu)及承壓能力，直接導(dǎo)致紙箱的抗壓強(qiáng)度下降，因此瓦楞紙板的厚度控制成為紙板生產(chǎn)過(guò)程中非常重要的工作。
3、 測(cè)試原理和設(shè)備結(jié)構(gòu)
測(cè)試原理可簡(jiǎn)述為：瓦楞紙板試樣在規(guī)定的壓力下，兩平行面之間的距離，單位為mm。
本儀器由機(jī)械傳動(dòng)、硬件電路、傳感器、顯示屏及智能測(cè)量控制等部件組成。本儀器（以PN-PT20F智能機(jī)型為例）外形結(jié)構(gòu)如圖1所示。
1－測(cè)量頭 2－量砧 3－打印機(jī) 4－顯示屏 5－電源插座 6－開關(guān) 7－天線 8－串口
圖1 瓦楞紙板厚度測(cè)定儀結(jié)構(gòu)示意圖
1、 試樣的采取、處理及試樣的準(zhǔn)備
按照國(guó)標(biāo)GB/T 450和GB/T 10739進(jìn)行試樣的采取和處理。
選擇足夠大的待測(cè)瓦楞紙板，切取面積為500cm2（200mm×250mm）的試樣，以保證讀取10個(gè)有效的數(shù)據(jù)。不得從同一張樣品上切取多于2個(gè)試樣，試樣上不得有損壞或其他不合規(guī)定之處，除非有關(guān)方同意，否則不得有機(jī)加工的痕跡。
2、 實(shí)驗(yàn)步驟及方法
在規(guī)定的大氣條件下進(jìn)行測(cè)試，每個(gè)試樣在不同的點(diǎn)測(cè)量?jī)纱巍?/p>
將試樣水平放入儀器測(cè)量頭和量鉆兩平面之間，試樣的邊緣與圓形底盤邊緣之間的最小距離不小于50mm。測(cè)量時(shí)應(yīng)輕輕地以2～3mm/min的速度將上測(cè)量頭壓在試樣上，以避免產(chǎn)生沖擊影響測(cè)量結(jié)果，并保證樣品表面與厚度儀測(cè)量平面的平行。
當(dāng)示值穩(wěn)定并且在紙板被“壓陷”下去前讀數(shù)。讀數(shù)時(shí)不許將手壓在儀器上和樣品上。重復(fù)上述步驟測(cè)試其余的四個(gè)試樣。
圖3 瓦楞紙板厚度測(cè)試設(shè)備
1、 結(jié)果計(jì)算分析
計(jì)算不少于10個(gè)試樣的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差，以mm表示。
2、 可能的錯(cuò)誤操作及誤差來(lái)源
7.1 可能的錯(cuò)誤操作
7.1.1 開機(jī)直接測(cè)。
本儀器屬于精密電子儀器，測(cè)量前要預(yù)熱30min以上，使內(nèi)部電子器件達(dá)到熱穩(wěn)定平衡。
7.1.2 不清潔測(cè)量面，直接測(cè)。
少量塵埃一開始可能不會(huì)影響讀數(shù)，但累積到一定程度就造成測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。如果測(cè)量面上有灰塵，進(jìn)行清零，否則將會(huì)造成測(cè)量結(jié)果偏低，一個(gè)灰塵的零點(diǎn)偏移可達(dá)到5微米，所以測(cè)量面一定要保持清潔。
7.1.3 用游標(biāo)卡尺直接測(cè)量瓦楞紙板的縱切邊來(lái)判斷厚度
由于瓦楞紙板生產(chǎn)線在縱切時(shí)，薄刀縱切有一定的壓力，瓦楞紙板的縱切邊一般會(huì)有壓塌，這樣測(cè)定時(shí)數(shù)值會(huì)偏低。其實(shí)在進(jìn)行厚度測(cè)定時(shí)是在標(biāo)準(zhǔn)壓力和測(cè)量面積下測(cè)定的，并且要選擇多點(diǎn)接觸測(cè)定取平均值。
7.2 主要誤差來(lái)源
壓力測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)不準(zhǔn)確。本儀器為高精密電子產(chǎn)品，使用一段時(shí)間后，因?yàn)闇y(cè)量頭上下導(dǎo)向機(jī)構(gòu)的摩擦阻力變化影響壓力大小，同時(shí)電子元器件及傳感器具的性能變化，測(cè)試準(zhǔn)確度有一定要漂移，從而會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，要定期對(duì)儀器進(jìn)行維護(hù)及校準(zhǔn)。
本論于2023年5月發(fā)表于《紙箱世界》雜志
